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单波长X荧光硅含量分析仪的自动定性分析分享

 发布时间:2022-03-28 点击量:54
  单波长X荧光硅含量分析仪除了能够进行硅含量分析之外,还可以检测从磷到锌的12种元素,尤其适用于亚ppm级别的钙、铁、钾、镍和钒等主要元素。采用高分辨率X射线荧光(HDXRF)技术,适用于检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物,以及煤炭等固体样品。
  该技术在传统的X射线荧光的技术基础上,在X光源系统中加入了晶体光栅分光技术并且同时采用了光学系统真空技术,成功的降低了X射线荧光分析技术的复杂背景。使用以上的单波长技术使得该分析仪的检测下限由传统X射线荧光分析仪的50ppm降低到0.13ppm,避免了微库仑电量法对人员要求高的不足,经过炼油厂用户使用情况重复性、再现性优于微库仑。
  今天咱们来聊一聊单波长X荧光硅含量分析仪的自动定性分析:
  1、自动过滤背景
  X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
  2、自动剥离重叠峰
  当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由此产生了重叠峰。软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
  3、自动补偿逃逸峰
  逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
  4、自动追踪谱图漂移
  在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
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